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華測儀器HCLD-2 CTI 耐漏電起痕試驗儀
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HCLD-2 CTI 耐漏電起痕試驗儀由華測儀器生產，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。
產品特點
1.帶有濾波、隔離變壓器、穩壓變壓器
2.自動化程度高
3.帶有排風口
4.具有數據數顯、存儲功能
5.具有過流保護、過壓保護、門限保護等
產品參數
試驗電壓：100V ~ 1000V（可定制）
滴液高度：30 ~ 40mm 連續可調
試驗電壓壓降：≤5%
滴液間隔時間：1s ~ 999s
短接電流：1A
滴液大?。海?0.0 ~ 23.0）mm3連續可調
操控方式：12寸觸摸屏
試驗終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s
供電電源：220V 50Hz 10A
華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。
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