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華測壓電系數(shù)測試儀/可縱向壓電應變常數(shù)d33
華測儀器HPZT-800寬頻高溫 d33 測試系統(tǒng)
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HPZT-800寬頻高溫 d33 測試系統(tǒng)由華測儀器生產，采用FPGA數(shù)字技術為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，基于華測公司在弱信號采集技術的優(yōu)勢，設計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測試儀器，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度效果好，測量量程范圍寬，可靠性提升，操作便捷。
華測儀器的業(yè)務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規(guī)劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。
產品參數(shù)
儀器參數(shù)
測試頻率：調節(jié)范圍30Hz~140Hz
精度：±0.1Hz
測試載荷：靜態(tài)力10N
振蕩測試載荷：0.05N~0.5N可調
電容測量范圍：10pF~0.1μF
精度：±2%±1pF
溫度范圍：RT~650℃
加熱方式：PID控制
溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（＞25℃），±0.1℃（＜25℃）
軟件功能：可設溫控速率、可設溫控程序、可記錄溫控曲線
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